Antagningsdata

Välj region och språk

Välj språk för hela webbplatsen.

Publicerad utbildningskatalog

Scanning Probe Microscopy

Utbildningsinformation från den publicerade källan. Utbildningen och dess tidsbundna tillfällen hålls åtskilda.

Utbildningsfakta

Kod: FYAD07

The course treats modern scanning probe microscopy (SPM) techniques, primarily scanning tunneling microscopy (STM) and scanning force microscopy (SFM), both regarding theory and practice. The physical foundation and theory of STM and SFM is treated thoroughly, as well as the basic measurement modes. The course also covers advanced measurement and analysis methods, artifacts, as well as manipulation with STM and SFM. Several examples of the use of SPM techniques in current research and industry are given. Finally, an overview of other SPM techniques is given. The course contains several laboratory exercises.

Behörighet

Mathematics, 45 ECTS credits, and Physics, 60 ECTS credits, including the courses Quantum Physics I, 7.5 ECTS credits, and Solid State Physics, 7.5 ECTS credits, and upper secondary level English 6, or equivalent

Utbildningstillfällen

Varje tillfälle har egna datum och villkor. Avslutade tillfällen behålls som historik och innebär inte att en ny ansökan är öppen.

Källa och uppdatering

Skolverket Susa-navet

Hämtad: .

Publicerad: .

Visa källversion

Publiceringsversion: 8e217193-f5fa-4778-b085-a4521fd03e8d

Kontrollsumma: 1b0dc54c0fc8a359f83ba9dc8f9d468479ce432de4c03bce3b8b33dd67fe3f6c

Senast ändrad enligt källan: 2026-03-13T13:32:43